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「(株)高岳製作所 登録製品一覧」
(株)高岳製作所 登録製品一覧
- 対象件数10件
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ICパッケージ基板バンプ検査装置
永年にわたって培われた高岳独自の三次元計測テクノロジーが、日夜進化する高密度実装分野の計測ニーズにお応えします。
・個片基板を高速、高精度に検査します
・検査項目
3D検査
・バンプ高さ
・コプラナリティ
2D検査
・パンプ位置ずれ
・パンプ間異物
・ブリッジ
・円形度
※お客様毎のカスタマイズ要求にお応えします。 -
2D/3D基板バンプ検査装置
永年にわたって培われた高岳独自の三次元計測テクノロジーが、日夜進化する高密度実装分野の計測ニーズにお応えします。 個片基板、多面付基板を高速、高精度に検査します。 3D検査:バンプ高さ、コプラナリティ 2D検査:バンプ位置ずれ、バンプ間異物、ブリッジ、円形度
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2D/3D基板バンプ検査装置(イントレイ検査型)
イントレイ状態のワークを高速・高精度に検査します。 個片基板、多面付基板を高速、高精度に検査します。 検査項目:3D検査 3D検査:バンプ高さ、コプラナリティ 2D検査:バンプ位置ずれ、バンプ間異物、ブリッジ、円形度
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高速ウェーハバンプ2D/3D検査装置 WVI-6000
新機種発表! ウェーハバンプ検査用の新型高速・高精度2次元/3次元検査装置をSEMICON JAPAN 2007において発表・展示します!是非弊社ブースにご来場ください。
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光ファイバ温度計 FT1420
高岳の光ファイバ温度計は、光ファイバを採用した光学現象によるセンシングシステムです。従来の温度センサでは困難であった高電圧部や強電磁界中での温度測定が行えます。
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光ファイバ温度計 FTI420
高岳の光ファイバ温度計は、光ファイバを採用した光学現象によるセンシングシステムです。従来の温度センサでは困難であった高電圧部や強電磁回中での温度測定が行えます。