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製品詳細
(株)高岳製作所
高速ウェーハバンプ2D/3D検査装置 WVI-6000
組立装置 その他理化学関連機器 トランジスタ/IC/LSI/超LSI新型高速ウェーハバンプ2D/3D検査装置
新機種発表! ウェーハバンプ検査用の新型高速・高精度2次元/3次元検査装置をSEMICON JAPAN 2007において発表・展示します!是非弊社ブースにご来場ください。
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【所在地】〒101-0065東京都千代田区西神田2-5-2TASビル3F
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