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  • デュアルモード３Ｄ共焦点・干渉システム　ＰＬμ２３００

    共焦点顕微鏡モード：71°傾斜面を測定　干渉モード：0.1nmの高精度測定　コンパクトな測定ヘッドで高速測定

    （株）ナノテックス

  • デュアルモード３Ｄ共焦点・干渉システム　ＰＬμ２３００

    共焦点顕微鏡モード：71°傾斜面を測定　干渉モード：0.1nmの高精度測定　コンパクトな測定ヘッドで高速測定

    （株）ナノテックス

  • デュアルモード３Ｄ共焦点・干渉システム　ＰＬμ２３００

    共焦点顕微鏡モード：71°傾斜面を測定　干渉モード：0.1nmの高精度測定　コンパクトな測定ヘッドで高速測定

    （株）ナノテックス

  • デュアルモード３Ｄ共焦点・干渉システム　ＰＬμ２３００

    共焦点顕微鏡モード：71°傾斜面を測定　干渉モード：0.1nmの高精度測定　コンパクトな測定ヘッドで高速測定

    （株）ナノテックス

  • デュアルモード３Ｄ共焦点・干渉システム　ＰＬμ２３００

    共焦点顕微鏡モード：71°傾斜面を測定　干渉モード：0.1nmの高精度測定　コンパクトな測定ヘッドで高速測定

    （株）ナノテックス

  • デュアルモード３Ｄ共焦点・干渉システム　ＰＬμ２３００

    共焦点顕微鏡モード：71°傾斜面を測定　干渉モード：0.1nmの高精度測定　コンパクトな測定ヘッドで高速測定

    （株）ナノテックス

  • 光ファイバ方式変位計PM-E

    光ファイバーを用いて，測定対象物に光を照射し，反射光を検出することにより，物体の変位を非接触で簡単に計測することができます． プローブは小型軽量でフレキシビリティが高いため，様々な装置に組み込みが容易です．また100kHzの広い応答性を有するので，各種振動測定にも利用可能です．

    （株）ナノテックス

  • 光ファイバ方式変位計PM-E

    光ファイバーを用いて，測定対象物に光を照射し，反射光を検出することにより，物体の変位を非接触で簡単に計測することができます． プローブは小型軽量でフレキシビリティが高いため，様々な装置に組み込みが容易です．また100kHzの広い応答性を有するので，各種振動測定にも利用可能です．

    （株）ナノテックス

  • 光ファイバ方式変位計PM-E

    光ファイバーを用いて，測定対象物に光を照射し，反射光を検出することにより，物体の変位を非接触で簡単に計測することができます． プローブは小型軽量でフレキシビリティが高いため，様々な装置に組み込みが容易です．また100kHzの広い応答性を有するので，各種振動測定にも利用可能です．

    （株）ナノテックス

  • 光ファイバ方式変位計PM-E

    光ファイバーを用いて，測定対象物に光を照射し，反射光を検出することにより，物体の変位を非接触で簡単に計測することができます． プローブは小型軽量でフレキシビリティが高いため，様々な装置に組み込みが容易です．また100kHzの広い応答性を有するので，各種振動測定にも利用可能です．

    （株）ナノテックス

  • 光ファイバ方式変位計PM-E

    光ファイバーを用いて，測定対象物に光を照射し，反射光を検出することにより，物体の変位を非接触で簡単に計測することができます． プローブは小型軽量でフレキシビリティが高いため，様々な装置に組み込みが容易です．また100kHzの広い応答性を有するので，各種振動測定にも利用可能です．

    （株）ナノテックス

  • 光ファイバ方式変位計PM-E

    光ファイバーを用いて，測定対象物に光を照射し，反射光を検出することにより，物体の変位を非接触で簡単に計測することができます． プローブは小型軽量でフレキシビリティが高いため，様々な装置に組み込みが容易です．また100kHzの広い応答性を有するので，各種振動測定にも利用可能です．

    （株）ナノテックス

  • 光ファイバ方式変位計PM-E

    光ファイバーを用いて，測定対象物に光を照射し，反射光を検出することにより，物体の変位を非接触で簡単に計測することができます． プローブは小型軽量でフレキシビリティが高いため，様々な装置に組み込みが容易です．また100kHzの広い応答性を有するので，各種振動測定にも利用可能です．

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  • 光ファイバ方式変位計PM-E

    光ファイバーを用いて，測定対象物に光を照射し，反射光を検出することにより，物体の変位を非接触で簡単に計測することができます． プローブは小型軽量でフレキシビリティが高いため，様々な装置に組み込みが容易です．また100kHzの広い応答性を有するので，各種振動測定にも利用可能です．

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  • 光ファイバ方式変位計PM-E

    光ファイバーを用いて，測定対象物に光を照射し，反射光を検出することにより，物体の変位を非接触で簡単に計測することができます． プローブは小型軽量でフレキシビリティが高いため，様々な装置に組み込みが容易です．また100kHzの広い応答性を有するので，各種振動測定にも利用可能です．

    （株）ナノテックス

  • 光ファイバ方式変位計PM-E

    光ファイバーを用いて，測定対象物に光を照射し，反射光を検出することにより，物体の変位を非接触で簡単に計測することができます． プローブは小型軽量でフレキシビリティが高いため，様々な装置に組み込みが容易です．また100kHzの広い応答性を有するので，各種振動測定にも利用可能です．

    （株）ナノテックス

  • 光ファイバ方式変位計PM-E

    光ファイバーを用いて，測定対象物に光を照射し，反射光を検出することにより，物体の変位を非接触で簡単に計測することができます． プローブは小型軽量でフレキシビリティが高いため，様々な装置に組み込みが容易です．また100kHzの広い応答性を有するので，各種振動測定にも利用可能です．

    （株）ナノテックス

  • 光ファイバ方式変位計PM-E

    光ファイバーを用いて，測定対象物に光を照射し，反射光を検出することにより，物体の変位を非接触で簡単に計測することができます． プローブは小型軽量でフレキシビリティが高いため，様々な装置に組み込みが容易です．また100kHzの広い応答性を有するので，各種振動測定にも利用可能です．

    （株）ナノテックス

  • 光ファイバ方式変位計PM-E

    光ファイバーを用いて，測定対象物に光を照射し，反射光を検出することにより，物体の変位を非接触で簡単に計測することができます． プローブは小型軽量でフレキシビリティが高いため，様々な装置に組み込みが容易です．また100kHzの広い応答性を有するので，各種振動測定にも利用可能です．

    （株）ナノテックス

  • 光ファイバ方式変位計PM-E

    光ファイバーを用いて，測定対象物に光を照射し，反射光を検出することにより，物体の変位を非接触で簡単に計測することができます． プローブは小型軽量でフレキシビリティが高いため，様々な装置に組み込みが容易です．また100kHzの広い応答性を有するので，各種振動測定にも利用可能です．

    （株）ナノテックス

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