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  • ナノ表面粗さ・段差形状計測器

    ●計測時間の大幅な短縮で試料による全数検査も可能　●低価格設定、クリーンルームや防振台も不要　●光ヘテロダイン干渉計測により理論上外部からの振動を相殺　●レーザー計測で対象物と接触しない　●広範囲の計測可能　●高分解能高さ方向0.1nmでAFMと互換性保持　●測定物の前処理や真空も不要で操作が簡単

    （有）シスコム

  • ナノ表面粗さ・段差形状計測器

    ●計測時間の大幅な短縮で試料による全数検査も可能　●低価格設定、クリーンルームや防振台も不要　●光ヘテロダイン干渉計測により理論上外部からの振動を相殺　●レーザー計測で対象物と接触しない　●広範囲の計測可能　●高分解能高さ方向0.1nmでAFMと互換性保持　●測定物の前処理や真空も不要で操作が簡単

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  • ナノ表面粗さ・段差形状計測器

    ●計測時間の大幅な短縮で試料による全数検査も可能　●低価格設定、クリーンルームや防振台も不要　●光ヘテロダイン干渉計測により理論上外部からの振動を相殺　●レーザー計測で対象物と接触しない　●広範囲の計測可能　●高分解能高さ方向0.1nmでAFMと互換性保持　●測定物の前処理や真空も不要で操作が簡単

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  • ナノ表面粗さ・段差形状計測器

    ●計測時間の大幅な短縮で試料による全数検査も可能　●低価格設定、クリーンルームや防振台も不要　●光ヘテロダイン干渉計測により理論上外部からの振動を相殺　●レーザー計測で対象物と接触しない　●広範囲の計測可能　●高分解能高さ方向0.1nmでAFMと互換性保持　●測定物の前処理や真空も不要で操作が簡単

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  • ナノ表面粗さ・段差形状計測器

    ●計測時間の大幅な短縮で試料による全数検査も可能　●低価格設定、クリーンルームや防振台も不要　●光ヘテロダイン干渉計測により理論上外部からの振動を相殺　●レーザー計測で対象物と接触しない　●広範囲の計測可能　●高分解能高さ方向0.1nmでAFMと互換性保持　●測定物の前処理や真空も不要で操作が簡単

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  • ナノ表面粗さ・段差形状計測器

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