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（有）シスコム

ナノ表面粗さ・段差形状計測器

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光ヘテロダイン干渉計測によるナノ表面粗さ形状測定！　非接触・迅速・低価格・高分解能！

●計測時間の大幅な短縮で試料による全数検査も可能　●低価格設定、クリーンルームや防振台も不要　●光ヘテロダイン干渉計測により理論上外部からの振動を相殺　●レーザー計測で対象物と接触しない　●広範囲の計測可能　●高分解能高さ方向0.1nmでAFMと互換性保持　●測定物の前処理や真空も不要で操作が簡単

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（有）シスコム

【所在地】〒171-0014東京都豊島区池袋４－２７－５和田ビル

【電話番号】03-6907-9105 【FAX番号】03-6715-8740

【URL】https://www.syscom-corp.jp/index.html