測定周波数4KHzの高サンプリング　干渉原理使用　光源：SLDを使用　品質管理及びインラインモニタリングに　1つのプローブで非接触にて厚み計測可能　システム統合も可能　各種インターフェイス用意しPCに取込が容易（RS232、USB、analog output等）　測定レンジ：10μm-1mm　左記より薄膜にも対応可能です　精度：0.3μm

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強力な紫外線をパルスで発光し、瞬時の硬化が可能　電源投入後の立ち上がりが早く、即時に稼働が可能（1秒以下）　大幅な消費電力の低減に貢献（従来ランプの1/5以下）　外部からの通信でランプ電圧や発光周波数を容易に制御可能　被照射体の熱変形や熱変質のダメージを抑制　各部装置と組合せ、完成度の高い自動システムが構築可能　専用照度モニター（TX100PM）で同期して照度を観測可能

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