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厚み計測 CHRocodile IT
測定周波数4KHzの高サンプリング 干渉原理使用 光源:SLDを使用 品質管理及びインラインモニタリングに 1つのプローブで非接触にて厚み計測可能 システム統合も可能 各種インターフェイス用意しPCに取込が容易(RS232、USB、analog output等) 測定レンジ:10μm-1mm 左記より薄膜にも対応可能です 精度:0.3μm
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厚み計測 CHRocodile IT
測定周波数4KHzの高サンプリング 干渉原理使用 光源:SLDを使用 品質管理及びインラインモニタリングに 1つのプローブで非接触にて厚み計測可能 システム統合も可能 各種インターフェイス用意しPCに取込が容易(RS232、USB、analog output等) 測定レンジ:10μm-1mm 左記より薄膜にも対応可能です 精度:0.3μm
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厚み計測 CHRocodile IT
測定周波数4KHzの高サンプリング 干渉原理使用 光源:SLDを使用 品質管理及びインラインモニタリングに 1つのプローブで非接触にて厚み計測可能 システム統合も可能 各種インターフェイス用意しPCに取込が容易(RS232、USB、analog output等) 測定レンジ:10μm-1mm 左記より薄膜にも対応可能です 精度:0.3μm
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厚み計測 CHRocodile IT
測定周波数4KHzの高サンプリング 干渉原理使用 光源:SLDを使用 品質管理及びインラインモニタリングに 1つのプローブで非接触にて厚み計測可能 システム統合も可能 各種インターフェイス用意しPCに取込が容易(RS232、USB、analog output等) 測定レンジ:10μm-1mm 左記より薄膜にも対応可能です 精度:0.3μm
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厚み計測 CHRocodile IT
測定周波数4KHzの高サンプリング 干渉原理使用 光源:SLDを使用 品質管理及びインラインモニタリングに 1つのプローブで非接触にて厚み計測可能 システム統合も可能 各種インターフェイス用意しPCに取込が容易(RS232、USB、analog output等) 測定レンジ:10μm-1mm 左記より薄膜にも対応可能です 精度:0.3μm
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厚み計測 CHRocodile IT
測定周波数4KHzの高サンプリング 干渉原理使用 光源:SLDを使用 品質管理及びインラインモニタリングに 1つのプローブで非接触にて厚み計測可能 システム統合も可能 各種インターフェイス用意しPCに取込が容易(RS232、USB、analog output等) 測定レンジ:10μm-1mm 左記より薄膜にも対応可能です 精度:0.3μm
