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「オリンパス(株) 登録製品一覧」
オリンパス(株) 登録製品一覧
- 対象件数20件
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近赤外顕微分光測定機 USPM-RU-W
380nm~1050nmの幅広い波長領域での多機能で高精度・高速な分光測定が可能
●微小領域の反射率測定が可能
対物レンズで試料面に微小スポットを投射することで微小部分の測定が可能。
●短い測定時間 スピーディーで再現性の高い現物測定が可能
●裏面からの反射光をカット 裏面反射の影響を受けずに薄肉試料の反射率の測定が可能。
【主な用途】
・球面・非球面レンズ、平面光学素子の反射率測定、物体色測定、膜厚測定
・平面光学素子の透過率測定
・LEDリフレクタ、半導体等の微細 -
近赤外顕微分光測定機 USPM-RU-W
380nm~1050nmの幅広い波長領域での多機能で高精度・高速な分光測定が可能
●微小領域の反射率測定が可能
対物レンズで試料面に微小スポットを投射することで微小部分の測定が可能。
●短い測定時間 スピーディーで再現性の高い現物測定が可能
●裏面からの反射光をカット 裏面反射の影響を受けずに薄肉試料の反射率の測定が可能。
【主な用途】
・球面・非球面レンズ、平面光学素子の反射率測定、物体色測定、膜厚測定
・平面光学素子の透過率測定
・LEDリフレクタ、半導体等の微細部の反射率測定
【仕様】
・測定波長:380~1500nm
・反射率測定
・透過率測定
・45度反射率測定
・測定方法:リファレンス試料による比較測定
・反射測定試料厚さ:最薄0.2mm
・試料の曲率半径:+1R~∞ -1R~∞
・測定範囲:約φ17~70μm(対物レンズによる)
・光源:専用ハロゲンランプ
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反射率測定機 USPM-RU III
・微少領域の反射率測定が可能
対物レンズで試料面に微少スポットを投射することで微少部分の測定が可能。
・短い測定時間
スピーディーで再現性の高い現物測定が可能。
・裏面からの反射光をカット
裏面反射の影響を受けずに薄肉試料の反射率の測定が可能。
【主な用途】
・LEDのリフレクタの反射率測定
・光学部品のコーティング面の反射率測定
・太陽電池のセル反射率測定
・LEDデバイス、半導体基板等の微細部の反射率測定
【仕様】
・測定波長:380nm〜780nm(特注:440nm〜840nm)
・光源:ハロゲンランプ
・測定方法:リファレンス試料による比較測定
・試料の曲率半径:-1R〜-∞、+1R〜∞
・測定範囲率:約Φ60μm(10×対物レンズ)、約Φ30μm(20×対物レンズ) -
手拭き洗浄液 ハイパークリーン EE-6310
レンズ・光学部品・電子部品・プラスティック製品の手拭き洗浄液ハイパークリーンは、作業者にも安全で、ISO14001の推進に当たり効果的。エーテル・シンナー・IPA・アセトンなど有機則該当溶剤の代替に最適です。
用途:
●光学部品の手拭き仕上げ
●フラックス・粘着剤 -
手拭洗浄液 ハイパークリーン EE−6310
レンズ・光学部品・電子部品・プラスティック製品の手拭き洗浄液ハイパークリーンは、作業者にも安全で、ISO14001の推進に当たり効果的。エーテル・シンナー・IPA・アセトンなど有機則該当溶剤の代替に最適です。
用途:
●光学部品の手拭き仕上げ
●フラックス・粘着剤の拭き取り
●生産現場、組み立て作業での手拭き洗浄
●光学機器・OA機器のクリーニング
●自販機、改札機、ATM機の修理点検、手脂汚れ、清掃業務など
安全第一 ハイパークリーンは全て有機則該当溶剤
5リットル缶、18リットル缶もご用意。
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レーザー干渉計 KIF-20-UW
・ニュートン評価タイプの干渉計システム
同仕様レンズの大量生産現場に適したシステムです。
・干渉縞数値化ソフトウェア付のパソコンを標準装備
従来の干渉縞観察に加え、干渉縞から収差を数値化表示することも可能。
・参照レンズにアリ溝マウントによる着脱式を採用
参照レンズの交換が簡単に短時間で可能となり、生産効率の向上に貢献。
【仕様】
・測定方式:フィゾー型干渉方式
・口径:φ60(オプション使用時φ6~φ60)mm
・参照レンズ面精度:λ/20(球面及び平面)
・光源:He-Neレーザ(632.8nm)レーザクラス2
・倍率:デジタルズーム(1~3倍)
・本体外形寸法:360(W)×260(D)×933(H)mm
・電源仕様:100-240V AC/50-60Hz
・位相算出方式:干渉縞の形状(縞2値化方式) -
反射率測定機 USPM-RUⅢ
【主な用途】
・LEDのリフレクタの反射率測定
・光学部品のコーテイング面の反射率測定
・太陽電池のセル反射率測定
・LEDデバイス、半導体基板等の微細部の反射率測定 -
ハイパークリーン EE-6310
レンズ・光学部品・電子部品・プラスティック製品の手拭き洗浄液ハイパークリーンは、作業者にも安全で、ISO14001の推進に当たり効果的。エーテル・シンナー・IPA・アセトンなど有機則該当溶剤の代替に最適です。 安全第一 ハイパークリーンは全て有機則該当溶剤 5リットル缶、18リットル缶もご用意。
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小型レーザ干渉計 KIF-20-DW
干渉縞数値化ソフトウェア付きのパソコンを標準装備 従来の干渉縞数観察に加え、干渉縞から収差を数値化表示することも可能。 参照レンズにアリ溝マウントによる着脱方式を採用 参照レンズの交換が簡単に短時間で可能となり、生産効率の向上に貢献。 安定した検査装置 小型高剛性、防振機能付きの干渉計本体は、生産現場での使用環境を考慮しているため、耐環境性、操作性に優れています。
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小型ニュートン測定機 KIF-10A-NW
測定物に応じて測定姿勢を変更可能。小型レンズの生産現場での迅速な品質検査に最適。 測定物に応じて脚部の取り付け位置を変更するだけで、アップワードタイプ、ダウンワードタイプとして使用できます。 ニュートン本数をニュートン原器と比較することにより、簡単に短時間で検査できます。(アップワードタイプ) 本体はコンパクトな卓上設計により、省設置スペースを実現。 防振構造も施されており、安定した検査測定が簡単に行えます。
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手拭き洗浄液 ハイパークリーン
レンズ・光学部品・電子部品・プラスティック製品の手拭き洗浄液ハイパークリーンは、作業者にも安全で、ISO14001の推進に当たり効果的。エーテル・シンナー・IPA・アセトンなど有機則該当溶剤の代替に最適です。 安全第一 ハイパークリーンは全て有機則該当溶剤 5リットル缶、18リットル缶もご用意。
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透過波面測定干渉計 KIF-PU
光ピックアップ光学部品用の生産ラインでの透過波面測定に最適 ピエゾ駆動のステージによる自動調整機構と専用ソフトウェアを標準装備。オペレータの熟練によらず安定した測定が可能です。 405nm/658nm帯光学素子の光学性能評価が可能。 直線/円偏光切替が可能。 生産現場での使用環境を考慮した小型で高剛性な本体は、場所を取らず、迅速な品質検査に対応します。 平面用測定機KIF-PU-Fもご用意
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手拭き洗浄液 ハイパークリーン
レンズ・光学部品・電子部品・プラスティック製品の手拭き洗浄液ハイパークリーンは、作業者にも安全で、ISO14001の推進に当たり効果的。エーテル・シンナー・IPA・アセトンなど有機則該当溶剤の代替に最適です。 安全第一 ハイパークリーンは全て有機則該当溶剤 5リットル缶、18リットル缶もご用意。
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手拭き洗浄液 ハイパークリーン
レンズ・光学部品・電子部品・プラスティック製品の手拭き洗浄液ハイパークリーンは、作業者にも安全で、ISO14001の推進に当たり効果的。エーテル・シンナー・IPA・アセトンなど有機則該当溶剤の代替に最適です。 安全第一 ハイパークリーンは全て有機則該当溶剤 5リットル缶、18リットル缶もご用意。
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洗浄液 ハイパークリーン
レンズ・光学部品・電子部品・プラスチック製品の手拭き洗浄液ハイパークリーンは、作業者にも安全で、ISO14001の推進にあたり効果的。エーテル・シンナー・IPA・アセトンなど有機則該当溶剤の代替に最適です。
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洗浄液 ハイパークリーン
レンズ・光学部品・電子部品・プラスチック製品の手拭き洗浄液ハイパークリーンは、作業者にも安全で、ISO14001の推進にあたり効果的。エーテル・シンナー・IPA・アセトンなど有機則該当溶剤の代替に最適です。
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洗浄液 ハイパークリーン
レンズ・光学部品・電子部品・プラスチック製品の手拭き洗浄液ハイパークリーンは、作業者にも安全で、ISO14001の推進にあたり効果的。エーテル・シンナー・IPA・アセトンなど有機則該当溶剤の代替に最適です。
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洗浄液 ハイパークリーン
レンズ・光学部品・電子部品・プラスチック製品の手拭き洗浄液ハイパークリーンは、作業者にも安全で、ISO14001の推進にあたり効果的。エーテル・シンナー・IPA・アセトンなど有機則該当溶剤の代替に最適です。
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洗浄液 ハイパークリーン
レンズ・光学部品・電子部品・プラスチック製品の手拭き洗浄液ハイパークリーンは、作業者にも安全で、ISO14001の推進にあたり効果的。エーテル・シンナー・IPA・アセトンなど有機則該当溶剤の代替に最適です。