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「すべて」の製品検索結果
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- 対象件数17333件
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ANSYS ICEM CFDシリーズ
形状に翻弄されないロバストなメッシュ作成。 不完全CADデータに対する柔軟な補完・編集。 幅広いダイレクトCADインターフェース。 複雑かつ大規模なモデルに威力を発揮。
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教育用・評価用ツール ANSYS ED
ANSYS EDは、有限要素法解析プログラムANSYSのすべての機能をサポートしながら、利用可能な解析規模などに制限をつけるだけで、大幅な低価格にてご提供している教育用・評価用プログラムです。ANSYSの統合製品開発プラットフォームANSYS Workbenchの機能にも対応しています。 構造・伝熱・電場・磁場・流体・圧電・音響などの解析機能→ANSYS Multiphysisと同等!! 非線形構造過渡解析機能→ANSYS LS-DYNAと同等!! プリおよびポストプロセッサ 設計最適化・確率論理的設計
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細物高精度ピン・細穴・スリット加工
このピンは細い! Φ20μまで 追及されたこの制度! 寸法精度、真円度、同筒度 段付きピン先端寸法公差±0.1μmまで ストレートピン寸法公差±0.05μmまで 段付き形状の多様さと精密さ! 先端微小特殊形状等
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フィルム・シート厚さ測定装置 TISM-O-1000型 他
小型、軽量で移動が簡単。設置場所が自由に選べます。 オンライン型非接触フィルム・シート厚さ計は安価で高速・高性能な測定を実現しました。オプションでTISM型は幅3500mm、TISMR型は幅2500mm対応可能です。 測定スパンが広くフィルムのバタツキに影響されにくい。 構成は簡単な本体と操作設定、表示用のノートパソコンのみです。 メカ部はメンテナンスフリーです。
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ばねのショールームOPEN告知
3月1日に念願の“ショールーム”を秋葉原にオープンすることになりました。 昨今インターネットの発達によりパソコンから情報を入手する事が多くなっていると思いますが、モノづくりにおいては、実際に“見て触る”事が依然重要であると考えます。何時でも見学できる常設の展示会場として、製品の展示はもちろんの事、設計や図面検討など技術的な事にも対応できる場所にしていきたいと考えています。
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雷カットトランス NCT-K型
ノイズカットトランズ雷サージ防使用です。 筐体・端子・グランド板などを極めて低インピーダンスに構成し、遮蔽効果・設置効果を高めています。 3重の電磁遮蔽により、どのような設置条件の現場にも対応できます。 4種類の容量の標準在庫品を用意してあり、即納できます。 3相用でもどのような電圧や容量のものでも受注製造します。
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停電対策
停電対策を簡単に実現!! 瞬停や電圧下降または停電により機器や生産ラインに大きな影響を及ぼす可能性があります。フエニックス・コンタクトのUPSなら、msレベルから最大数時間までの停電対策が可能です。 メンテナンスフリーのバッファモジュール“QUINT BUFFER”は瞬停対策に最適です。 また長時間の停電には“QUINT DC UPS”が最適です。 10AUPS制御ユニットは1.3Ahバッテリーを内蔵しており、省スペース化にも貢献できます。 定格20Aと40A用のUPS制御ユニットは3.4Ah、7.2Ah
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ナカエアチャック NPC-4TTS-43/NPC-4TTS-33
クーラント・オイルミスト対応可能 優れた耐久性と高精度 エアーシリンダーを内蔵しての小型、コンパクト設計。ワンタッチでチャッキングができます。据置き型と回転型の2方式があり、回転型は旋盤・切削加工の工作機械に、据置き型はロボットのハンドチャックや、ローディング装置のワーク着脱、小型インデックス用チャックなど広く応用できます。いずれも繰り返し精度や耐久性に優れ、機種も豊富に揃っています。 あらゆる機種が勢揃い
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防爆形変位センサ EX SERIES
危険場所での変位及び位置計測に最適!! 本差動変圧器は、IEC規格に適合した技術的基準による安全増防爆構造電気機器としての性能を満足するように設計製作されたものです。危険場所(1種/2種)での変位及び位置計測に最適です。重電設備等の弁開度計や調節弁のコントロール用として数多くの実績を有しております。
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真空吸着ブロック
高い平滑度・吸着力を誇るSUS製吸着板 真空吸着ブロックは主に、半導体製造装置や検査装置などに多く使用されております。特長としてはワークの吸着跡や歪みを予防する為に高い平滑度の要求に応えるだけでなく、全面吸着による高い吸着力を可能にした開発製品です。是非一度お試し下さい。
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積分球
ラブスフェア社の積分球は日本を含め世界でもっとも多く使われています。あなたがいつかどこかで見た積分球もきっとラブスフェア社製です。 ランプ全光束の測定 LEDの全光束、全出力の測定 LCDバックライト全光束の測定 ファイバー光源出力の測定 全反射光・全透過光の測定 LCD反射測定のための拡散照明 量子効率の測定 CCDカメラシステムの校正
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