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ＡＣ電源電圧変動試験機 VDS-2002
●IEC61000-4-11に準拠した電源電圧変動 試験器 ●ACの電源電圧変動だけでなくDCの瞬断試験 にも対応 ●専用ソフトウェアにより瞬断・瞬低のサイクルなど を変更した様々な試験が可能
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ＡＣ電源電圧変動試験機 VDS-2002
●IEC61000-4-11に準拠した電源電圧変動 試験器 ●ACの電源電圧変動だけでなくDCの瞬断試験 にも対応 ●専用ソフトウェアにより瞬断・瞬低のサイクルなど を変更した様々な試験が可能
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ＡＣ電源電圧変動試験機 VDS-2002
●IEC61000-4-11に準拠した電源電圧変動 試験器 ●ACの電源電圧変動だけでなくDCの瞬断試験 にも対応 ●専用ソフトウェアにより瞬断・瞬低のサイクルなど を変更した様々な試験が可能
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ＡＣ電源電圧変動試験機 VDS-2002
●IEC61000-4-11に準拠した電源電圧変動 試験器 ●ACの電源電圧変動だけでなくDCの瞬断試験 にも対応 ●専用ソフトウェアにより瞬断・瞬低のサイクルなど を変更した様々な試験が可能
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プリント基板電磁波解析測定システム EPS-3007
●基板のノイズ発生源を可視化する測定システム ●測定周波数は150kHz～3GHz（ＯＰ含む）です。 ●測定サイズは最大300mm×350mm。 ●磁界と電界成分の切り分けができます。 ●製品からの輻射源を特定できる『EPS-01A』
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プリント基板電磁波解析測定システム EPS-3007
●基板のノイズ発生源を可視化する測定システム ●測定周波数は150kHz～3GHz（ＯＰ含む）です。 ●測定サイズは最大300mm×350mm。 ●磁界と電界成分の切り分けができます。 ●製品からの輻射源を特定できる『EPS-01A』
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プリント基板電磁波解析測定システム EPS-3007
●基板のノイズ発生源を可視化する測定システム ●測定周波数は150kHz～3GHz（ＯＰ含む）です。 ●測定サイズは最大300mm×350mm。 ●磁界と電界成分の切り分けができます。 ●製品からの輻射源を特定できる『EPS-01A』
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プリント基板電磁波解析測定システム EPS-3007
●基板のノイズ発生源を可視化する測定システム ●測定周波数は150kHz～3GHz（ＯＰ含む）です。 ●測定サイズは最大300mm×350mm。 ●磁界と電界成分の切り分けができます。 ●製品からの輻射源を特定できる『EPS-01A』
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プリント基板電磁波解析測定システム EPS-3007
●基板のノイズ発生源を可視化する測定システム ●測定周波数は150kHz～3GHz（ＯＰ含む）です。 ●測定サイズは最大300mm×350mm。 ●磁界と電界成分の切り分けができます。 ●製品からの輻射源を特定できる『EPS-01A』
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プリント基板電磁波解析測定システム EPS-3007
●基板のノイズ発生源を可視化する測定システム ●測定周波数は150kHz～3GHz（ＯＰ含む）です。 ●測定サイズは最大300mm×350mm。 ●磁界と電界成分の切り分けができます。 ●製品からの輻射源を特定できる『EPS-01A』
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プリント基板電磁波解析測定システム EPS-3007
●基板のノイズ発生源を可視化する測定システム ●測定周波数は150kHz～3GHz（ＯＰ含む）です。 ●測定サイズは最大300mm×350mm。 ●磁界と電界成分の切り分けができます。 ●製品からの輻射源を特定できる『EPS-01A』
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●基板のノイズ発生源を可視化する測定システム ●測定周波数は150kHz～3GHz（ＯＰ含む）です。 ●測定サイズは最大300mm×350mm。 ●磁界と電界成分の切り分けができます。 ●製品からの輻射源を特定できる『EPS-01A』
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●基板のノイズ発生源を可視化する測定システム ●測定周波数は150kHz～3GHz（ＯＰ含む）です。 ●測定サイズは最大300mm×350mm。 ●磁界と電界成分の切り分けができます。 ●製品からの輻射源を特定できる『EPS-01A』
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プリント基板電磁波解析測定システム EPS-3007
●基板のノイズ発生源を可視化する測定システム ●測定周波数は150kHz～3GHz（ＯＰ含む）です。 ●測定サイズは最大300mm×350mm。 ●磁界と電界成分の切り分けができます。 ●製品からの輻射源を特定できる『EPS-01A』
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プリント基板電磁波解析測定システム EPS-3007
●基板のノイズ発生源を可視化する測定システム ●測定周波数は150kHz～3GHz（ＯＰ含む）です。 ●測定サイズは最大300mm×350mm。 ●磁界と電界成分の切り分けができます。 ●製品からの輻射源を特定できる『EPS-01A』
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●基板のノイズ発生源を可視化する測定システム ●測定周波数は150kHz～3GHz（ＯＰ含む）です。 ●測定サイズは最大300mm×350mm。 ●磁界と電界成分の切り分けができます。 ●製品からの輻射源を特定できる『EPS-01A』
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●基板のノイズ発生源を可視化する測定システム ●測定周波数は150kHz～3GHz（ＯＰ含む）です。 ●測定サイズは最大300mm×350mm。 ●磁界と電界成分の切り分けができます。 ●製品からの輻射源を特定できる『EPS-01A』
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プリント基板電磁波解析測定システム EPS-3007
●基板のノイズ発生源を可視化する測定システム ●測定周波数は150kHz～3GHz（ＯＰ含む）です。 ●測定サイズは最大300mm×350mm。 ●磁界と電界成分の切り分けができます。 ●製品からの輻射源を特定できる『EPS-01A』
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プリント基板電磁波解析測定システム EPS-3007
●基板のノイズ発生源を可視化する測定システム ●測定周波数は150kHz～3GHz（ＯＰ含む）です。 ●測定サイズは最大300mm×350mm。 ●磁界と電界成分の切り分けができます。 ●製品からの輻射源を特定できる『EPS-01A』
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プリント基板電磁波解析測定システム EPS-3007
●基板のノイズ発生源を可視化する測定システム ●測定周波数は150kHz～3GHz（ＯＰ含む）です。 ●測定サイズは最大300mm×350mm。 ●磁界と電界成分の切り分けができます。 ●製品からの輻射源を特定できる『EPS-01A』
