巧みな分級効果により、シャープな粒度分布をもった数μmの超微粉が容易に得られます。　機械的回転部分がないので発熱が無く低融点物質の粉砕もできます。　粉砕部の構造がシンプルで不純物の混入がありません。　工具を必要としない、清掃性重視の設計です。　吸引タイプであるので粉塵の発生がありません。　製品回収はコンパクトなバグフィルタを使用し、またエレメントは水洗い可能です。

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接着・粘着材のタック値を高精度に測定　プローブタック法により室温～高温まで手軽に測定できます。　試料とプローブを共に温度コントロールし温度依存の測定が可能　半導体ストレインゲージを使用し高精度に測定　各種条件をキーで設定し自動測定、個人誤差を除く　プローブの圣、材質変更可能　IIW、IPC、JISなどの各種規格に準拠

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