- ホーム
- 「すべて」製品検索結果
「」の製品検索結果
「」の製品検索結果
- 対象件数98360件
-
耐熱180℃ 放射温度計 パイロミニシリーズ
◆冷却不要で180℃【PM-HA-201タイプのみ】 ◆タッチスクリーン採用で優れた一覧性 ◆アラーム設定値になるとアラーム出力に加え画面の色が変化。即座に異常が確認できます。 ◆グラフ表示により温度履歴表示も可能。 ◆SDカード採用でデータロガーなしにデータの保存が可能。 ◆4~20mAおよびRS485(Modbus)を選択可 ◆豊富なオプション・アクセサリ ※英Calex Electronics社製
-
耐熱180℃ 放射温度計 パイロミニシリーズ
◆冷却不要で180℃【PM-HA-201タイプのみ】 ◆タッチスクリーン採用で優れた一覧性 ◆アラーム設定値になるとアラーム出力に加え画面の色が変化。即座に異常が確認できます。 ◆グラフ表示により温度履歴表示も可能。 ◆SDカード採用でデータロガーなしにデータの保存が可能。 ◆4~20mAおよびRS485(Modbus)を選択可 ◆豊富なオプション・アクセサリ ※英Calex Electronics社製
-
汎用・用途別 放射温度計 TMHX-C シリーズ
【特長】 ■温度計単体でリニアなアナログ信号とRS232Cの2つが出力されます。 ■細かい設定が必要な場合は別途「表示設定器 TMCXシリーズ」をご購入くださいS。 ■InSb(インジウムアンチモン)センサを新採用。応答速度が速くなり、より安定的に。低温測定温度計の新基準です。 ■同行軸LED照準機構を採用。これにより照準光が照らされている範囲が、そのまま温度測定している範囲となるため位置合わせがとても簡単。 ■IP67相当の構造を採用しているため悪環境の現場でも設置可能。 ■さらに温度測定補助をするためのアクセサリが豊富。 ■試験成績書や校正証明書、トレーサビリティ体系図が発行可能。 【ラインナップ紹介】 ■ローコストタイプ:TMHX-CNE ■微小点タイプ :TMHX-CSE(最小スポット径:φ0.7mm) ■長距離タイプ :TMHX-CLE ■高速応答タイプ :TMHX-CHE(最速1mS) ■超高速応答タイプ:TMHX-CUE(最速0.1mS) ■ガラス測定用 :TMHX-CGE(測定波長:5.0~5.6μm) ■フィルム測定用 :TMHX-CFE(測定波長:3.4μm) ■石英ガラス越し用:TMHX-CQE(測定波長:2.8~3.9μmなど) ■鏡面測定用 :TMHX-CME ■ランプ加熱用 :TMHX-CPE(測定波長:5.0~6.8μm) ■炎越し用 :TMHX-CVE(測定波長:3.9μm) ■炎検知センサ :TMHX-CBE(測定波長:4.3μm)
-
汎用・用途別 放射温度計 TMHX-C シリーズ
【特長】 ■温度計単体でリニアなアナログ信号とRS232Cの2つが出力されます。 ■細かい設定が必要な場合は別途「表示設定器 TMCXシリーズ」をご購入くださいS。 ■InSb(インジウムアンチモン)センサを新採用。応答速度が速くなり、より安定的に。低温測定温度計の新基準です。 ■同行軸LED照準機構を採用。これにより照準光が照らされている範囲が、そのまま温度測定している範囲となるため位置合わせがとても簡単。 ■IP67相当の構造を採用しているため悪環境の現場でも設置可能。 ■さらに温度測定補助をするためのアクセサリが豊富。 ■試験成績書や校正証明書、トレーサビリティ体系図が発行可能。 【ラインナップ紹介】 ■ローコストタイプ:TMHX-CNE ■微小点タイプ :TMHX-CSE(最小スポット径:φ0.7mm) ■長距離タイプ :TMHX-CLE ■高速応答タイプ :TMHX-CHE(最速1mS) ■超高速応答タイプ:TMHX-CUE(最速0.1mS) ■ガラス測定用 :TMHX-CGE(測定波長:5.0~5.6μm) ■フィルム測定用 :TMHX-CFE(測定波長:3.4μm) ■石英ガラス越し用:TMHX-CQE(測定波長:2.8~3.9μmなど) ■鏡面測定用 :TMHX-CME ■ランプ加熱用 :TMHX-CPE(測定波長:5.0~6.8μm) ■炎越し用 :TMHX-CVE(測定波長:3.9μm) ■炎検知センサ :TMHX-CBE(測定波長:4.3μm)
-
汎用・用途別 放射温度計 TMHX-C シリーズ
【特長】 ■温度計単体でリニアなアナログ信号とRS232Cの2つが出力されます。 ■細かい設定が必要な場合は別途「表示設定器 TMCXシリーズ」をご購入くださいS。 ■InSb(インジウムアンチモン)センサを新採用。応答速度が速くなり、より安定的に。低温測定温度計の新基準です。 ■同行軸LED照準機構を採用。これにより照準光が照らされている範囲が、そのまま温度測定している範囲となるため位置合わせがとても簡単。 ■IP67相当の構造を採用しているため悪環境の現場でも設置可能。 ■さらに温度測定補助をするためのアクセサリが豊富。 ■試験成績書や校正証明書、トレーサビリティ体系図が発行可能。 【ラインナップ紹介】 ■ローコストタイプ:TMHX-CNE ■微小点タイプ :TMHX-CSE(最小スポット径:φ0.7mm) ■長距離タイプ :TMHX-CLE ■高速応答タイプ :TMHX-CHE(最速1mS) ■超高速応答タイプ:TMHX-CUE(最速0.1mS) ■ガラス測定用 :TMHX-CGE(測定波長:5.0~5.6μm) ■フィルム測定用 :TMHX-CFE(測定波長:3.4μm) ■石英ガラス越し用:TMHX-CQE(測定波長:2.8~3.9μmなど) ■鏡面測定用 :TMHX-CME ■ランプ加熱用 :TMHX-CPE(測定波長:5.0~6.8μm) ■炎越し用 :TMHX-CVE(測定波長:3.9μm) ■炎検知センサ :TMHX-CBE(測定波長:4.3μm)
-
汎用・用途別 放射温度計 TMHX-C シリーズ
【特長】 ■温度計単体でリニアなアナログ信号とRS232Cの2つが出力されます。 ■細かい設定が必要な場合は別途「表示設定器 TMCXシリーズ」をご購入くださいS。 ■InSb(インジウムアンチモン)センサを新採用。応答速度が速くなり、より安定的に。低温測定温度計の新基準です。 ■同行軸LED照準機構を採用。これにより照準光が照らされている範囲が、そのまま温度測定している範囲となるため位置合わせがとても簡単。 ■IP67相当の構造を採用しているため悪環境の現場でも設置可能。 ■さらに温度測定補助をするためのアクセサリが豊富。 ■試験成績書や校正証明書、トレーサビリティ体系図が発行可能。 【ラインナップ紹介】 ■ローコストタイプ:TMHX-CNE ■微小点タイプ :TMHX-CSE(最小スポット径:φ0.7mm) ■長距離タイプ :TMHX-CLE ■高速応答タイプ :TMHX-CHE(最速1mS) ■超高速応答タイプ:TMHX-CUE(最速0.1mS) ■ガラス測定用 :TMHX-CGE(測定波長:5.0~5.6μm) ■フィルム測定用 :TMHX-CFE(測定波長:3.4μm) ■石英ガラス越し用:TMHX-CQE(測定波長:2.8~3.9μmなど) ■鏡面測定用 :TMHX-CME ■ランプ加熱用 :TMHX-CPE(測定波長:5.0~6.8μm) ■炎越し用 :TMHX-CVE(測定波長:3.9μm) ■炎検知センサ :TMHX-CBE(測定波長:4.3μm)
-
汎用・用途別 放射温度計 TMHX-C シリーズ
【特長】 ■温度計単体でリニアなアナログ信号とRS232Cの2つが出力されます。 ■細かい設定が必要な場合は別途「表示設定器 TMCXシリーズ」をご購入くださいS。 ■InSb(インジウムアンチモン)センサを新採用。応答速度が速くなり、より安定的に。低温測定温度計の新基準です。 ■同行軸LED照準機構を採用。これにより照準光が照らされている範囲が、そのまま温度測定している範囲となるため位置合わせがとても簡単。 ■IP67相当の構造を採用しているため悪環境の現場でも設置可能。 ■さらに温度測定補助をするためのアクセサリが豊富。 ■試験成績書や校正証明書、トレーサビリティ体系図が発行可能。 【ラインナップ紹介】 ■ローコストタイプ:TMHX-CNE ■微小点タイプ :TMHX-CSE(最小スポット径:φ0.7mm) ■長距離タイプ :TMHX-CLE ■高速応答タイプ :TMHX-CHE(最速1mS) ■超高速応答タイプ:TMHX-CUE(最速0.1mS) ■ガラス測定用 :TMHX-CGE(測定波長:5.0~5.6μm) ■フィルム測定用 :TMHX-CFE(測定波長:3.4μm) ■石英ガラス越し用:TMHX-CQE(測定波長:2.8~3.9μmなど) ■鏡面測定用 :TMHX-CME ■ランプ加熱用 :TMHX-CPE(測定波長:5.0~6.8μm) ■炎越し用 :TMHX-CVE(測定波長:3.9μm) ■炎検知センサ :TMHX-CBE(測定波長:4.3μm)
-
汎用・用途別 放射温度計 TMHX-C シリーズ
【特長】 ■温度計単体でリニアなアナログ信号とRS232Cの2つが出力されます。 ■細かい設定が必要な場合は別途「表示設定器 TMCXシリーズ」をご購入くださいS。 ■InSb(インジウムアンチモン)センサを新採用。応答速度が速くなり、より安定的に。低温測定温度計の新基準です。 ■同行軸LED照準機構を採用。これにより照準光が照らされている範囲が、そのまま温度測定している範囲となるため位置合わせがとても簡単。 ■IP67相当の構造を採用しているため悪環境の現場でも設置可能。 ■さらに温度測定補助をするためのアクセサリが豊富。 ■試験成績書や校正証明書、トレーサビリティ体系図が発行可能。 【ラインナップ紹介】 ■ローコストタイプ:TMHX-CNE ■微小点タイプ :TMHX-CSE(最小スポット径:φ0.7mm) ■長距離タイプ :TMHX-CLE ■高速応答タイプ :TMHX-CHE(最速1mS) ■超高速応答タイプ:TMHX-CUE(最速0.1mS) ■ガラス測定用 :TMHX-CGE(測定波長:5.0~5.6μm) ■フィルム測定用 :TMHX-CFE(測定波長:3.4μm) ■石英ガラス越し用:TMHX-CQE(測定波長:2.8~3.9μmなど) ■鏡面測定用 :TMHX-CME ■ランプ加熱用 :TMHX-CPE(測定波長:5.0~6.8μm) ■炎越し用 :TMHX-CVE(測定波長:3.9μm) ■炎検知センサ :TMHX-CBE(測定波長:4.3μm)
-
本質安全防爆 放射温度計 ExTempシリーズ
・本質安全防爆形なので危険場所Zone0、1および2で使用可 ・測定温度範囲:-20℃~+1000℃(4種類) ・本質安全防爆絶縁バリヤと組み合わせ使用 ・オプション機器で放射率、4-20mAスケーリングなど自由設定可 ・316ステンレスで過酷な環境に対応、保護等級IP65 ・CE適合品 ※英Calex Electronics社製
-
本質安全防爆 放射温度計 ExTempシリーズ
・本質安全防爆形なので危険場所Zone0、1および2で使用可 ・測定温度範囲:-20℃~+1000℃(4種類) ・本質安全防爆絶縁バリヤと組み合わせ使用 ・オプション機器で放射率、4-20mAスケーリングなど自由設定可 ・316ステンレスで過酷な環境に対応、保護等級IP65 ・CE適合品 ※英Calex Electronics社製
-
本質安全防爆 放射温度計 ExTempシリーズ
・本質安全防爆形なので危険場所Zone0、1および2で使用可 ・測定温度範囲:-20℃~+1000℃(4種類) ・本質安全防爆絶縁バリヤと組み合わせ使用 ・オプション機器で放射率、4-20mAスケーリングなど自由設定可 ・316ステンレスで過酷な環境に対応、保護等級IP65 ・CE適合品 ※英Calex Electronics社製
-
本質安全防爆 放射温度計 ExTempシリーズ
・本質安全防爆形なので危険場所Zone0、1および2で使用可 ・測定温度範囲:-20℃~+1000℃(4種類) ・本質安全防爆絶縁バリヤと組み合わせ使用 ・オプション機器で放射率、4-20mAスケーリングなど自由設定可 ・316ステンレスで過酷な環境に対応、保護等級IP65 ・CE適合品 ※英Calex Electronics社製
-
本質安全防爆 放射温度計 ExTempシリーズ
・本質安全防爆形なので危険場所Zone0、1および2で使用可 ・測定温度範囲:-20℃~+1000℃(4種類) ・本質安全防爆絶縁バリヤと組み合わせ使用 ・オプション機器で放射率、4-20mAスケーリングなど自由設定可 ・316ステンレスで過酷な環境に対応、保護等級IP65 ・CE適合品 ※英Calex Electronics社製
-
本質安全防爆 放射温度計 ExTempシリーズ
・本質安全防爆形なので危険場所Zone0、1および2で使用可 ・測定温度範囲:-20℃~+1000℃(4種類) ・本質安全防爆絶縁バリヤと組み合わせ使用 ・オプション機器で放射率、4-20mAスケーリングなど自由設定可 ・316ステンレスで過酷な環境に対応、保護等級IP65 ・CE適合品 ※英Calex Electronics社製
-
放射率測定器 TSS-5X-3
■放射率測定器とは!? 測定対象物から放射されている赤外線量を簡単に計測できます。 これを知ることで測定対象物が反射が強い材質なのか、熱吸収が強い材質なのか判別可能です。 ■用途事例 ○各種コーティング効果の判定や、コーティングの有無判定などに。 → フィルムなどのコーティング剤が正しく塗布されているか、生産ラインでの導入実績もあります。 ○放熱や熱吸収を重視した材料設計に。 → 例えばPCなどのように内部に熱が発生する製品の場合に、場所によって熱吸収の高い材質を採用するなどの材料設計にも活用されています。 → 暖房機器などの放射効率を高めたり、放熱、断熱を重視した材料設計を行うことができ、省エネルギーに役立てることもできます。 ○素材の表面処理の微妙な違いを数値化する。 → 例えば半導体装置のある部品が鏡面状態を維持し続ける必要があり、定期的にTSS-5X-3で測定することで鏡面状態を担保するという事例もあります。
-
放射率測定器 TSS-5X-3
■放射率測定器とは!? 測定対象物から放射されている赤外線量を簡単に計測できます。 これを知ることで測定対象物が反射が強い材質なのか、熱吸収が強い材質なのか判別可能です。 ■用途事例 ○各種コーティング効果の判定や、コーティングの有無判定などに。 → フィルムなどのコーティング剤が正しく塗布されているか、生産ラインでの導入実績もあります。 ○放熱や熱吸収を重視した材料設計に。 → 例えばPCなどのように内部に熱が発生する製品の場合に、場所によって熱吸収の高い材質を採用するなどの材料設計にも活用されています。 → 暖房機器などの放射効率を高めたり、放熱、断熱を重視した材料設計を行うことができ、省エネルギーに役立てることもできます。 ○素材の表面処理の微妙な違いを数値化する。 → 例えば半導体装置のある部品が鏡面状態を維持し続ける必要があり、定期的にTSS-5X-3で測定することで鏡面状態を担保するという事例もあります。
-
放射率測定器 TSS-5X-3
■放射率測定器とは!? 測定対象物から放射されている赤外線量を簡単に計測できます。 これを知ることで測定対象物が反射が強い材質なのか、熱吸収が強い材質なのか判別可能です。 ■用途事例 ○各種コーティング効果の判定や、コーティングの有無判定などに。 → フィルムなどのコーティング剤が正しく塗布されているか、生産ラインでの導入実績もあります。 ○放熱や熱吸収を重視した材料設計に。 → 例えばPCなどのように内部に熱が発生する製品の場合に、場所によって熱吸収の高い材質を採用するなどの材料設計にも活用されています。 → 暖房機器などの放射効率を高めたり、放熱、断熱を重視した材料設計を行うことができ、省エネルギーに役立てることもできます。 ○素材の表面処理の微妙な違いを数値化する。 → 例えば半導体装置のある部品が鏡面状態を維持し続ける必要があり、定期的にTSS-5X-3で測定することで鏡面状態を担保するという事例もあります。
-
放射率測定器 TSS-5X-3
■放射率測定器とは!? 測定対象物から放射されている赤外線量を簡単に計測できます。 これを知ることで測定対象物が反射が強い材質なのか、熱吸収が強い材質なのか判別可能です。 ■用途事例 ○各種コーティング効果の判定や、コーティングの有無判定などに。 → フィルムなどのコーティング剤が正しく塗布されているか、生産ラインでの導入実績もあります。 ○放熱や熱吸収を重視した材料設計に。 → 例えばPCなどのように内部に熱が発生する製品の場合に、場所によって熱吸収の高い材質を採用するなどの材料設計にも活用されています。 → 暖房機器などの放射効率を高めたり、放熱、断熱を重視した材料設計を行うことができ、省エネルギーに役立てることもできます。 ○素材の表面処理の微妙な違いを数値化する。 → 例えば半導体装置のある部品が鏡面状態を維持し続ける必要があり、定期的にTSS-5X-3で測定することで鏡面状態を担保するという事例もあります。
-
放射率測定器 TSS-5X-3
■放射率測定器とは!? 測定対象物から放射されている赤外線量を簡単に計測できます。 これを知ることで測定対象物が反射が強い材質なのか、熱吸収が強い材質なのか判別可能です。 ■用途事例 ○各種コーティング効果の判定や、コーティングの有無判定などに。 → フィルムなどのコーティング剤が正しく塗布されているか、生産ラインでの導入実績もあります。 ○放熱や熱吸収を重視した材料設計に。 → 例えばPCなどのように内部に熱が発生する製品の場合に、場所によって熱吸収の高い材質を採用するなどの材料設計にも活用されています。 → 暖房機器などの放射効率を高めたり、放熱、断熱を重視した材料設計を行うことができ、省エネルギーに役立てることもできます。 ○素材の表面処理の微妙な違いを数値化する。 → 例えば半導体装置のある部品が鏡面状態を維持し続ける必要があり、定期的にTSS-5X-3で測定することで鏡面状態を担保するという事例もあります。
-
放射率測定器 TSS-5X-3
■放射率測定器とは!? 測定対象物から放射されている赤外線量を簡単に計測できます。 これを知ることで測定対象物が反射が強い材質なのか、熱吸収が強い材質なのか判別可能です。 ■用途事例 ○各種コーティング効果の判定や、コーティングの有無判定などに。 → フィルムなどのコーティング剤が正しく塗布されているか、生産ラインでの導入実績もあります。 ○放熱や熱吸収を重視した材料設計に。 → 例えばPCなどのように内部に熱が発生する製品の場合に、場所によって熱吸収の高い材質を採用するなどの材料設計にも活用されています。 → 暖房機器などの放射効率を高めたり、放熱、断熱を重視した材料設計を行うことができ、省エネルギーに役立てることもできます。 ○素材の表面処理の微妙な違いを数値化する。 → 例えば半導体装置のある部品が鏡面状態を維持し続ける必要があり、定期的にTSS-5X-3で測定することで鏡面状態を担保するという事例もあります。
