「光」
光一覧
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測定ダイナスコープ ケストレル
ダイナスコープ光学系 倍率:10,20(標準)、50倍 測定ステージ:150mm(X)×100mm(Y) 精度:0.001mm/10mm QC200マイクロプロセッサ
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透明熱線カット塗料 PIシリーズ
PIシリーズは、超微粒子セラミックスの使用により、高い透明性を持ちながら、熱線を反射・吸収してカットします。 窓からの採光や開放感を損なわずに、特に夏期における室内や車内の温度上昇の抑制に効果があります。 そのため、冷房負荷を軽減し省エネルギー・CO2削減につながります。
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マイクロ波インバーターUV装置 TFL150INV
マイクロ波励起による発光の為安定した強力な紫外線を発生し自由に調光出来る。 従来光源と比べて2.3倍の強力な紫外線を発光、又発光がきわめて速い。 UV照度が自由に調光でき低リップルで極めて安定した発光。 無電極ランプの為、従来光源より2・3倍寿命が長い。 マイクロ波式の為、熱(赤外線)が少く、更にコールドミラーで低熱化を計っている。 ランプと反射板の交換のみで必要波長の選択ができる。 装置の構造がシンプルで軽量且つコンパクト。
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導電塗料 SP-2001/SP-2002
透明だから用途も広がる ICマガジン、トレイ、電子部品の包装フィルム、クリーンルームの透明仕切板、電子部品工場の床や作業台、計測器カバー、偏光版、液晶パネル、電極部などに最適です。 水溶液ならではの高い安全性 設備の防爆対策が不要です。 優れた帯電防止効果:10^5~10^7Ω 温度・湿度の影響を受けない電子導電型の帯電防止処理が可能です。 透明性、耐久性に優れた塗膜 半永久的な帯電防止効果が継続。 オレフィン系(SP-2001)とポリエステル系(SP-2002)の2タイプがあります。 コルコートなら優れ
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測定ダイナスコープ ケストレル
ダイナスコープ光学系 倍率:10,20(標準)、50倍 測定ステージ:150mm(X)×100mm(Y) 精度:0.001mm/10mm QC200マイクロプロセッサ
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差動変圧器変位センサ LT2SERIES
600mmストローク新登場!! 高精度・高信頼の変位検出に対応。 差動変圧器の精度限界に挑戦 LT2型はLTシリーズの特長である、コンパクト、高精度、高安定に加え、LT1型を上回る耐環境性能と堅ろう性を備えた新型変位センサです。
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積分球
ラブスフェア社の積分球は日本を含め世界でもっとも多く使われています。あなたがいつかどこかで見た積分球もきっとラブスフェア社製です。 ランプ全光束の測定 LEDの全光束、全出力の測定 LCDバックライト全光束の測定 ファイバー光源出力の測定 全反射光・全透過光の測定 LCD反射測定のための拡散照明 量子効率の測定 CCDカメラシステムの校正
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メンブレンディスプレイ
バーグラフでも円グラフでもお好み次第で作れます 厚み3.6mm以下! 数字も文字も光ります! 発光色も照度も思いのまま! 照光なのにクリック感 7セグ・バーグラフ・ドット文字も照光可能 インテリジェントなスイッチパネルとして各種機能の追加も可能 防水仕様や各種I/F対応も可能 部品の高さや位置の確認は不要!表面デザインだけで設計はすべてタッチテックオリジナル!
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マイクロ波インバーターUV装置 TFL150INV
マイクロ波励起による発光の為安定した強力な紫外線を発生し自由に調光出来る。 従来光源と比べて2.3倍の強力な紫外線を発光、又発光がきわめて速い。 UV照度が自由に調光でき低リップルで極めて安定した発光。 無電極ランプの為、従来光源より2・3倍寿命が長い。 マイクロ波式の為、熱(赤外線)が少く、更にコールドミラーで低熱化を計っている。 ランプと反射板の交換のみで必要波長の選択ができる。 装置の構造がシンプルで軽量且つコンパクト。
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変位センサ LT1シリーズ
高精度・高信頼の変位検出に対応。 差動変圧器LTシリーズは、測定レンジをさらにワイドにし、直線性、温度安定度も向上させ、より信頼性向上を高めた構造とし、幅広いニーズにお応えできます。 変位センサ(差動変圧器)との組合せに最適!! 多様なLVDT/RVDTによる計測システムを構築できます。 計測システム全体でも安定性、高精度計測をお約束します。 多チャンネルの同期がとれます。 断線検出機能を搭載可能です。 広範囲な電源に対応します。 コンパクト化しました。 高いサービス性を実現しました。
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スリットノズルヘッダー
ラブスフェア社の積分球は日本を含め世界でもっとも多く使われています。あなたがいつかどこかで見た積分球もきっとラブスフェア社製です。 ランプ全光束の測定 LEDの全光束、全出力の測定 LCDバックライト全光束の測定 ファイバー光源出力の測定 全反射光・全透過光の測定 LCD反射測定のための拡散照明 量子効率の測定 CCDカメラシステムの校正
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