プリズム

製品情報

製品詳細

（株）東光高岳

高速･高精度　非破壊膜厚検査　ThIS-5001RA

非破壊膜厚検査

反射率分光法を用いた独自の計測アルゴリズムを搭載

●可視光による多孔質膜の膜厚測定を実現

●多孔質膜の空隙率を算出可能

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（株）東光高岳

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