製品詳細

株式会社AndTech

『無料データベース・ツールを活用した特許調査・分析&文献調査・分析テクニック』

メーカーの製品情報サイトはこちら

光学測定 質量測定 試験機器 ラボ用器具/設備 検査機器 プログラムリレー 静電気/ノイズ対策 温度 スイッチング電源 工業用カメラ 組立装置 実装機器/システム ボードコンピュータ 軸受 モータ 工作機械 成形 ポンプ 粉砕装置 エンジニアリングプラスチック 搬送機器/システム 工場内環境対策機器/設備 CCTV関連 超微細加工装置 太陽 ボード設計/開発 バーコード・リーダー 環境関連計測機器 ネットワーク機器 化学系 原料加工機器/装置 温度/湿度/密度/比重測定 圧力測定 レベル計測 流量測定 速度・回転測定 環境測定 指示計/調節計/記録計 レンタル・リース 長さ/角度/形状/圧さ測定 その他 距離測定 濃度測定 オシロスコープ/アナライザ 分析機器 その他理化学関連機器 検出器 温度/湿度/圧力 カウンタ タイマ/タイムスイッチ デジタルパネルメータ 信号変換機 プロセス用制御システム その他 筺体/ラック/キャビネット ヒーター/クーラー/チラー モニタ 湿度 水分 熱量 濃度 流量 圧力 加速度 振動 ひずみ 磁気 変位/位置 回転 その他 トランジスタ/IC/LSI/超LSI ダイオード 発光ダイオード 抵抗器 コンデンサ スピーカー コイル/トランス リレー 振動子 プリント基板 コネクタ 開閉器(スイッチ) 電線 端子 その他 ケーブル アクセサリ 直流電源 交流電源 高圧電源 その他 レンズ 光源/照明 画像処理ボード 画像処理機器 画像処理周辺機器 画像記憶/記録装置 画像出力機器 画像伝送機器 画像計測/解析機器 画像素子/部品 画像処理ソフト 顕微鏡 その他 撮影機器 フラットパネルディスプレイ用装置 検出/測定装置 プロセス装置 試験装置 一般装置 材料組立 薬品/固体 気体 FPD材料 マスク製作材料 プロセス材料 ウェーハ基板 材料試験 構成要素/部品 その他 製造設備/コントロールシステム その他 設計受託サービス 開発支援 その他 ベルト チェーン 締結部品 ばね アクチュエータ シール 潤滑剤 表面処理技術/機器 その他 工具 機構部品 継手 モータドライバ エンコーダ 歯車 プーリ クラッチ ブレーキ 減速機 その他 刃具/ツーリング 鍛圧機械 構成部品 補助材 その他 加工 素形材/成形材 CAD/CAM/CAE 刃具 治具 補助材 その他 試作 バルブ 継手 ホース チューブ フィルタ ノズル シール材 油圧機器 空気圧機器 水圧機器 真空機器 その他 充填機 ディスペンサ ろ過装置 ふるい分け装置 分級装置 濾過装置 混合装置 混練装置 造粒装置/コーティング装置 乾燥装置 供給装置 分散装置 集塵装置 その他 攪拌機 工業用ゴム 合金 ファインセラミックス 超電導材料 電子/半導体材料 その他素材/材料 ガラス 耐熱材料 パレット/コンテナ 包装システム 物流情報システム その他 物流搬送機器/システム/部 空調設備 省エネ対策 セキュリティ関連 その他 監視用映像機器 入退出管理システム その他セキュリティ製品 評価/計測機器 材料/素材 メカトロニクス MEMS バイオ/医療関連 その他 風力 水素/燃料電池 二次電池 その他 FPGA設計 CAD設計 メカトロ設計 XML/EDIサービス 成形/加工 設計受託サービス 計測/試験/検査/分析 成形/加工/製造 その他 その他 マーキング ラベル RFID関連 インクジェットプリンター QRコード/二次元バーコード リサイクル製品 光学機器 光伝送装置 無線伝送機器 有線伝送機器 映像/放送機器 電気系 その他 衛生対策/管理機器/設備 計測/制御/分析/検査機器 食品包装関連機器 保管/搬送/輸送関連機器 その他食品機械/補助機械

【6月21日】

本講座では受講者の皆様にPC演習(データベース演習、Excel・PowerPoint演習など)を通じて、特許情報だけではなく文献情報も含めた調査・分析テクニックを体得していただくことを目的としております。

この企業の登録製品はこちら

株式会社AndTech

【所在地】〒214-0032神奈川県川崎市多摩区枡形6丁目16番17501号

【電話番号】050-3538-1954 【FAX番号】050-3658-0119

【URL】http://www.techzone.jp/

★特許情報だけではなく文献情報も含めた調査・分析テクニックを習得!! ★無料データベースだけで先行技術調査や研究開発戦略策定などに十分に活用できる!! 『無料データベース・ツールを活用した特許調査・分析&文献調査・分析テクニック』 ※ページ下部の「人数登録」を選択し、「カゴに入れる」を選択するとお申し込み手続き開始となります。

セミナー概要

セミナー番号
S00603

講 師
 
日本技術貿易(株) IP総研 コンサルティングソリューショングループ グループリーダー 野崎 篤志 氏
対 象特許・パテントに関係するすべての方
会 場
日 時
平成22年6月21日(月) 10:30~16:30
定 員20名 ※満席になりましたら、締め切らせていただきます。早めにお申し込みください。
聴講料
1名につき43050円(税込、テキスト費用・昼食代含む)

初めてお申込みの方は1名につき41050円(税込、テキスト費用・お茶代含む) 要(無料会員登録)



※同一法人より2名のお申し込みの場合、69300円。

◆ 講演趣旨 ◆

無料で利用できる特許検索データベース(日本特許電子図書館IPDLやUSPTO・esp@acenet等)や文献検索データベース(CiNiiJ-STAGE、Google Scholar等)が登場してから10年ほどが経過しました。無料データベースといいながらも、備えられている機能を利用することで、先行技術調査や研究開発戦略策定などに十分に活用することができます。 本講座では受講者の皆様にPC演習(データベース演習、Excel・PowerPoint演習など)を通じて、特許情報だけではなく文献情報も含めた調査・分析テクニックを体得していただくことを目的としております。

◆ プログラム ◆

※本セミナーでは受講者全員分のパソコンをご用意しております。

1.技術情報調査の基礎知識

 1-1.技術情報を巡る最近の状況  1-2.技術情報(特許・文献など)の種類  1-3.技術情報の調査方法

2.特許調査データベースとツールの活用方法

 2-1.特許調査の基礎知識  2-2.特許検索式作成のためのDB・ツール活用方法  2-3.テキストマイニングDB・ツールの利用について  2-4.特許調査結果のまとめ方

3.特許分析データベースとツールの活用方法

 3-1.特許分析・パテントマップの基礎知識  3-2.無料で利用できる特許分析ツール  3-3.特許分析結果のまとめ方

4.文献調査・分析およびその他ツール

 4-1.文献調査・分析の基礎知識  4-2.無料で利用できる文献調査データベース  4-3.無料で利用できる文献分析ツール

5.特許・文献情報を調査・分析実習

 5-1.無料DBを活用した先行技術調査  5-2.無料DB・ツールを活用したパテントマップ作成 【質疑応答・名刺交換】