製品詳細

(株)マツボー

非接触ウエハ厚み・反り測定装置

その他 その他 トランジスタ/IC/LSI/超LSI 試験装置 ガラス MEMS

非接触ウエハ厚み・反り測定装置

上下のプローブセンサーにより、ウエハ本来の厚みを測定  上下の白色光プローブにて、非接触測定 ウエハの状態(透明、反射、導電性有無、ポリッシュ有無、湿気有無)に影響せず GaAs、GaN、SiC、サファイヤ、ガラスウエハの測定に最適 1台の装置にて、ウエハの厚み、TTV、TIR、BOW、WARP、平坦度の測定が可能 高速測定:最大100ポイント/秒 ウエハ両面を同時に測定し、ウエハの表面形状 TTV、反りを測定  色の波長により焦点距離が異なる原理(クロマトコード)を用いて

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